Model：F50-UVX
Function：薄膜厚度测量，可自动mapping
Model：SE-2000
Function：用于探测单层或多层薄膜的折射率（n）、消光系数（k）及厚度等信息
Model：500TC
Function：1. 基片薄膜应力测试（注：薄膜沉积前后各需测一次）；
2. 室温至500℃升温薄膜应力测试。
Model：B1500A
Function：二极管、三极管、MOS管等半导体器件以及材料的直流电流-电压(I-V)测量，脉冲IV，准静态和中频电容-电压(C-V)测量，时域测量等。
Model：ResMap 178
Function：半导体或半导体薄膜电阻及方块电阻测量
Model：K2500
Function：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数。
Address: 800 Dongchuan Road, Minhang District, Shanghai 200240, China
Tel: +86 21 3420 7734
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