尊敬的各位用户老师、同学：
AEMD平台西区紫外干涉薄膜厚度测量仪（设备编号：WF1TFMF01）因设备维修，即日起暂停使用。已预约的相关实验将统一取消，待设备维修完成恢复使用后，需重新进行预约。设备恢复情况将另行通知。
维修期间，如有相关测试需求，可预约以下设备：
椭圆偏振光谱仪（设备编号：WT1SELP01）
全自动薄膜干涉测厚仪（微区）（设备编号：ETE3TMS01）
给您带来不便，敬请谅解。感谢您的理解与支持！
先进电子材料与器件（AEMD）平台
2025年12月30日
