【AEMD平台微纳技术系列讲座】

第15讲~第17讲 | 表征工艺专题讲座

 

第15讲：SEM与SEM base Nanoprober 在半导体器件中的应用及制样方法

主讲人：周鸥(日立科学仪器（北京）有限公司，半导体行业专门部长)

日期：2022年7月8日(周五)

时间：19:00-20:30

 

第16讲：扫描电镜成像技术及最新技术进展分享

主讲人：张芳(卡尔蔡司（上海）管理有限公司，区域电镜应用主管)

日期：2022年7月12日(周二)

时间：19:00-20:30

 

第17讲：显微技术在新一代半导体行业解决方案

主讲人：杨瑞(卡尔蔡司（上海）管理有限公司，高级电镜应用工程师)

日期：2022年7月15日(周五)

时间：19:00-20:30时间：19:00-20:30

（扫码入会）

腾讯会议号： 780-3798-6336

会议密码：2022

 

【讲座预告】

7月19日 第十八讲 | Ion Beam Sputtering for Thin Film Deposition（19:00~20:30）