热加工设备

序号设备名称设备编号设备放置地点设备状态工艺工程师温度范围设备功能送样须知
1快速真空热处理系统EEI0RTP01东区外延/离子注入区正常李天清300-1250℃快速热制程系统以红外线卤素灯管为热源,分由上、下、左、右同步辐射加热制品从而达到均匀的热处理制程,该设备在真空条件下可完成离子注入后退火,修复损伤,特殊材料的应力释放等。用于加工8英寸硅片以及向下兼容的各种样品尺寸。禁止金属,有机物,各种光刻胶,动植物标本,粉状物,含液及易挥发物质材料,高度<5mm,小于八寸的样品.
2硼扩散炉(P型掺杂)WDFSOXD01西区炉管区暂停开放李进喜500-1200℃1. 硼预扩散;
2. 硼扩散推进退火。
3~6寸硅片(圆片);禁止后道硅片进入。
3磷扩散炉(N型掺杂)WDFSOXD02西区炉管区暂停开放李进喜500-1200℃1. 磷预扩散;
2. 磷扩散推进退火。
3~6寸硅片(圆片);禁止后道硅片进入。
4氧化炉(干氧/湿氧)WDFSOXD03西区炉管区对外开放李进喜500-1200℃1. 高品质氧化硅的干氧氧化;
2. 超厚氧化硅的湿氧氧化。
3~6寸硅片(圆片);禁止后道硅片进入。
5LPCVD(非晶/多晶硅沉积)WDFSLPF01西区炉管区对外开放李进喜700-900℃1. 高品质非晶硅或多晶硅沉积;
2. 非晶硅及多晶硅沉积时的同步N型掺杂。
3~6寸硅片(圆片);禁止后道硅片进入。
6LPCVD(氮化硅薄膜沉积)WDFSLPF02西区炉管区对外开放李进喜700-900℃1. 普通高品质氮化硅(Si3N4)薄膜沉积;
2. 高品质低应力氮化硅(Si3N4)薄膜沉积;
3. 氮氧化硅薄膜沉积。
3~6寸硅片(圆片);禁止后道硅片进入。
7马弗炉WDFTHTA01西区炉管区对外开放李进喜100-1200℃氮化保护高温退火。前段样品(无光刻胶,无任何金属膜层)。
8Premtek快速热退火炉WDFJRTP01西区炉管区对外开放李进喜RT~1200℃升温速度:40℃/Sec;降温方式:水冷和气冷,平均70℃/Min;
工作气体: PN2, Ar (适用于常规退火、金属硅化、合金化等)。
基片:6"*1,4"*1,3"*4,2"*9。
9Premtek快速热氧化/氮化炉(限制级)WDFJRTO01西区炉管区对外开放李进喜RT~1200℃1.升温速度:40℃/Sec;降温方式:水冷和气冷,平均70℃/Min;
2. 工作气体: PN2,Ar,O2,NH3;
3. 可抽真空退火。
严禁金属入内;基片:6"*1,4"*1,3"*4,2"*9。
10RTP-300快速热处理炉EMCDRTP01东区主大厅暂停开放毛海平RT~700℃温度误差±10℃。4英寸以下样品,厚度不超过1毫米。