【AEMD系列技术研讨会】
IBM 5nm NanoSheet Gate-All-Around Transistor Introduction
各位老师、同学:
2017年11月2日星期四下午13:30在微电子大楼401会议室,召开AEMD系列技术研讨会——IBM 5nm NanoSheet Gate-All-Around Transistor Introduction,相关信息如下。欢迎全校相关学科的老师与同学参加!
时间:11月2日(周四)下午13:30-15:30
地点:微电子大楼401会议室
题目:IBM 5nm NanoSheet Gate-All-Around Transistor Introduction
主讲人
徐越,2011年西安电子科技大学微电子学院硕士毕业,现任IBM芯片设计部门主任工程师,曾任Cadence IP部门高级工程师及Synopsys应用顾问。曾负责游戏平台处理器芯片,网络交换器芯片以及DDR PHY IP的开发以及EDA工具的咨询业务。目前负责IBM POWER架构高性能服务器处理器芯片设计从RTL到流片的后端实现,包括逻辑与物理综合,布局布线,时钟网格设计,时序分析,信号完整性及电源完整性分析,物理规则检查,设计流程整合。
IBM芯片部门负责人
尹文,2008年上海交通大学微电子学院硕士毕业,现任 IBM 芯片设计部门经理。从事芯片设计工作近十年,曾参与或领导开发过高性能网络处理器ASIC,和应用于智能设备的低功耗处理器SOC;目前负责IBM高性能POWER 处理器芯片设计从RTL 到流片的后端实现,包括逻辑综合,测试电路设计,物理设计, 时序分析,电源信号完整性分析,物理规则检查,模拟电路设计和设计流程整合; 负责芯片封装设计,芯片封装同步设计和封装供应商管理。
内容简介:
此讲座将介绍一种新型纳米薄片硅电晶体,厚度仅5nm。2017年6月6号,IBM 在京都举行的 VLSI Technology and Circuits 研讨会上宣布,IBM 与其研究联盟合作伙伴 Global Foundries 以及三星公司为新型的芯片制造了5 纳米(nm)大小的晶体管。该研究发表在2017年期刊VLSI上,题为《堆叠纳米薄片环栅式电晶体》,该研究证明了5nm晶片的制备具有可行性且更效率更高;研究团队将硅纳米层进行水平堆叠,而非传统的硅半导体行业的垂直堆叠构架,这使得5nm晶体管的工艺有了实现可能。本研究中的纳米薄片电晶体结构采用了远紫外线光刻技术(EUV),该技术可以实现纳米薄片宽度的连续调整,在单一的制造工艺内或晶片设计流程内即可完成。和当前市场上10nm主流技术相比,5nm尺寸的薄片技术在固定功率条件下可增强40%的工作性能,在匹配性能条件下可节能75%。这一技术大大迎合了未来人工智能系统、虚拟化现实和移动设备的发展要求。