Keithley 4200半导体参数分析仪（含探针台）

（Keithley 4200 Semiconductor Characterization System）

主要技术指标/Specifications：

  1. 4200-SCS/F半导体特性分析系统主机，2个高分辨率中功率SMU

最大电流100mA，最大电压200V，最大功率2W

4200-SCS/F semiconductor characterization system with 2 high resolution medium power SMU

Max. current:100mA; Max. voltage:200V; Max. Power: 2W

  1. 4200-SMU高分辨率中功率SMU（源测量单元）

最大电流100mA；最大电压200V；最大功能2W；配置有4200-PA，扩展电流分辨率至0.1fA

4200-SMU high resolution medium power unit (source measure unit)

Max. current:100mA; Max. voltage:200V; Max. Power: 2W; configured 4200-PA, current resolution down to 0.1fA

  1. 4200-CVU C-V测试单元，扫描频率范围1KHZ-10MHz

4200-CVU C-V measurement unit, scanning frequency: 1KHZ~10MHz

主要用途/Application：

用于测量半导体与光电器件的I-V、C-V及Cp-G, Cp-D, Cs-Rs, Cs-D, R-jX, Z theta.等特性曲线

Measuring characterization curve of semiconductor devices or optic-electronic devices (e.g., I-V, C-V, Cp-G, Cp-D, Cs-Rs, Cs-D, R-jX  Z theta, etc.).

Keithley 4200半导体参数分析仪（含探针台）